| Název: | Understanding ionizing energy losses after charged particle and neutron impact in semiconductors with hybrid pixel detectors |
| Autoři: | Bergmann, Benedikt |
| Citace zdrojového dokumentu: | 2022 International Conference on Applied Electronics: Pilsen, 6th – 7th September 2022, Czech Republic, p. 1-4. |
| Datum vydání: | 2022 |
| Nakladatel: | Fakulta elektrotechnická ZČU |
| Typ dokumentu: | konferenční příspěvek conferenceObject |
| URI: | http://hdl.handle.net/11025/49839 |
| ISBN: | 978-1-6654-9482-3 |
| Klíčová slova: | radiační poškození;pixelové detektory;neionizující ztráta energie;ztráta ionizační energie;detektory částic;neutronové záření |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | neutron radiation;radiation damage;pixel detectors;non-ionizing energy losse (NIEL);ionizing energy losse (IEL);particle detectors |
| Abstrakt v dalším jazyce: | Hybrid pixel detectors of Timepix3 technology allow noiseless single particle detection and identification. We exploit this capability for a comprehensive study of ionizing energy losses and their spatial distribution in silicon sensors after exposure to charged particles and neutrons |
| Práva: | © IEEE |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Applied Electronics 2022 Applied Electronics 2022 |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| Understanding_ionizing_energy_losses_after_charged_particle_and_neutron_impact_in_semiconductors_with_hybrid_pixel_detectors.pdf | Plný text | 1,77 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
| uvod.pdf | Plný text | 1,61 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/49839Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.