Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.authorRástočný, Karol
dc.contributor.authorIlavský, Juraj
dc.contributor.editorPihera, Josef
dc.contributor.editorSteiner, František
dc.date.accessioned2012-10-31T09:34:00Z
dc.date.available2012-10-31T09:34:00Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationElectroscope. 2010, č. 2, výběr z konference Applied Electronics 2010.cs
dc.identifier.issn1802-4564
dc.identifier.urihttp://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2010/Cislo2_2010_Applied_Electronics_2010/r4c2c3.pdf
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/571
dc.format5 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoenen
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnickács
dc.relation.ispartofseriesElectroscopecs
dc.rightsCopyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved.en
dc.subjectbezpečnostně kritické řídící systémycs
dc.subjectporuchacs
dc.subjectbezpečnostní integritacs
dc.titleQuantification of the safety level of a safety-critical control systemen
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessopenAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.description.abstract-translatedThis paper introduces a method of evaluating the hazardous failure rate of a safety relevant control system if the state probability distribution is given as a result of an absorbing Continuous Time Markov Chain analysis. Markov Chains with more than one absorbing state are contemplated and eventually the case study is presented.en
dc.description.abstract-translatedV článku je navrhnutá metóda výpočtu intenzity nebezpečných porúch bezpečnostne kritického riadiaceho systému priamo z rozdelenia pravdepodobnosti stavov absorpčného Markovovho reťazca so spojitým časom. Článok sa špecificky zameriava na absorpčné Markovove reťazce s viac než jedným absorpčným stavom. Navrhnutá metóda je na záver aplikovaná v konkrétnej prípadovej štúdii analýzy bezpečnostne kritického systému.sk
dc.subject.translatedsafety-critical control systemsen
dc.subject.translatedfailureen
dc.subject.translatedsafety integrityen
dc.type.statusPeer-revieweden
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 2 - Applied Electronics 2010 (2010)
Číslo 2 - Applied Electronics 2010 (2010)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r4c2c3.pdf682,8 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/571

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.