Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.authorŠkarvada, Pavel
dc.contributor.authorTománek, Pavel
dc.contributor.authorKoktavý, Pavel
dc.contributor.editorPihera, Josef
dc.contributor.editorSteiner, František
dc.date.accessioned2012-11-09T11:52:37Z
dc.date.available2012-11-09T11:52:37Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.citationElectroscope. 2011, č. 4, EDS 2011.cs
dc.identifier.issn1802-4564
dc.identifier.urihttp://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2011/Cislo4_2011/r5c4c6.pdf
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/625
dc.format4 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoenen
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnickács
dc.relation.ispartofseriesElectroscopecs
dc.rightsCopyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved.en
dc.subjectsolární článkycs
dc.subjectsilikoncs
dc.subjectdefektycs
dc.subjectrastrovací sondová mikroskopiecs
dc.titleMicroscale comparison of solar cell recombination centersen
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessopenAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.description.abstract-translatedThe aim of this work is an experimental microscale comparison of several imperfection types of silicon solar cells which emit visible light under reverse bias condition. The setup with scanning probe microscope (SPM) and sensitive detector is used for the measurement of light emission in microscale. Used SPM allows a measurement of Light Beam Induced Current (LBIC) with high spatial resolution together with sample topography. Due to a number of observed defects that have no correlation with surface topography, we have found out that there are also defects having strong correlation with surface topography. In the most cases, investigated inhomogeneites could not be localized via light induced beam technique.en
dc.subject.translatedsollar cellsen
dc.subject.translatedsiliconen
dc.subject.translateddefectsen
dc.subject.translatedscanning probe microscopeen
dc.type.statusPeer-revieweden
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 4 - EDS 2011 (2011)
Číslo 4 - EDS 2011 (2011)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r5c4c6.pdf282,82 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
Zobrazit minimální záznam Zobrazit statistiky


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/625

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.

hledání
navigace
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Publikace ZČU / UWB Publications
  3. Časopisy ZČU / UWB Journals
  4. Electroscope
  5. Ročník 2011
  6. Číslo 4 - EDS 2011 (2011)