Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.advisorNetrvalová, Marie
dc.contributor.advisorVavruňková, Veronika
dc.contributor.authorMalán, Martin
dc.contributor.refereeBruncko, Jaroslav
dc.date.accepted2014-06-03
dc.date.accessioned2015-03-25T09:25:29Z-
dc.date.available2013-10-14cs
dc.date.available2015-03-25T09:25:29Z-
dc.date.issued2014
dc.date.submitted2014-05-07
dc.identifier58625
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/12384
dc.description.abstractPředkládaná diplomová práce je zaměřena na optické vlastnosti dielektrických tenkých vrstev. Konkrétně se jedná o vrstvu oxidu titaničitého, která je nadeponovaná na křemíkový substrát. Materiál je díky svým vlastnostem a díky dostupnosti jedním z perspektivních materiálů použitelných například jako antireflexní vrstvy.cs
dc.format62 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocscs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plznics
dc.relation.isreferencedbyhttps://portal.zcu.cz/StagPortletsJSR168/CleanUrl?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=58625-
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení.cs
dc.subjectTenká vrstvacs
dc.subjectoxid titaničitý (TiO2)cs
dc.subjectmagnetronové naprašovánícs
dc.subjectstrukturní vlastnostics
dc.subjectoptické vlastnosti.cs
dc.titleOptické vlastnosti dielektrických tenkých vrstevcs
dc.title.alternativeOptical properties of dielectric thin filmsen
dc.typediplomová prácecs
dc.thesis.degree-nameIng.cs
dc.thesis.degree-levelNavazujícícs
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnickács
dc.description.departmentKatedra technologií a měřenícs
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatikacs
dc.description.resultObhájenocs
dc.rights.accessopenAccessen
dc.description.abstract-translatedThis diploma thesis is focused on the optical properties of dielectric thin films. Specifically, the layer of titanium dioxide, which is deposited on the silicon substrate. The material is due to its characteristics and due to the availability one of perspective materials used for example as an anti-reflection layer.en
dc.subject.translatedThin filmen
dc.subject.translatedtitanium dioxideen
dc.subject.translatedmagnetron sputteringen
dc.subject.translatedstructural propertiesen
dc.subject.translatedoptical properties.en
Vyskytuje se v kolekcích:Diplomové práce / Theses (KET)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Diplomova prace.pdfPlný text práce4,26 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
058625_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce291,39 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
058625_oponent.pdfPosudek oponenta práce581,2 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
058625_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce171,5 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
Zobrazit minimální záznam Zobrazit statistiky


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/12384

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.

hledání
navigace
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Vysokoškolské kvalifikační práce / Theses
  3. Fakulta elektrotechnická / Faculty of Electrical Engineering
  4. Katedra technologií a měření / Department of Technologies and Measurement
  5. Diplomové práce / Theses (KET)