Název: Optimization of the reliability ensuring of radioelectronic equipment
Autoři: Nedostup, Leonid
Kiselychnyk, Myroslav
Zayarnyuk, Pavlo
Citace zdrojového dokumentu: CPEE – AMTEE 2015: Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering: 6th – 8th September 2015 Třebíč, Czech Republic, p. III-3.
Datum vydání: 2015
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni
Typ dokumentu: konferenční příspěvek
conferenceObject
URI: http://cpee.zcu.cz/AMTEE/ArchivedProceedings.aspx
http://hdl.handle.net/11025/25740
ISBN: 978-80-261-0527-5
Klíčová slova: spolehlivost;optimalizace výroby;závady;parametrická spolehlivost
Klíčová slova v dalším jazyce: reliability;optimization of manufacturing;defectiveness;parametrical reliability
Abstrakt v dalším jazyce: In this paper presents proposals for the REE reliability ensure methods supplement, which allows to optimize the manufacturing process, to calculate the impact of defects, to predicting parametrical reliability. This will improve overall reliability and reduce the cost of its maintenance.
Práva: © University of West Bohemia
Vyskytuje se v kolekcích:CPEE – AMTEE 2015

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Nedostup.pdfPlný text166,63 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/25740

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.