Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.authorSchauer, Pavel
dc.contributor.editorPihera, Josef
dc.contributor.editorSteiner, František
dc.date.accessioned2012-11-01T09:59:58Z
dc.date.available2012-11-01T09:59:58Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationElectroscope. 2010, č. 3, EDS 2010.cs
dc.identifier.issn1802-4564
dc.identifier.urihttp://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2010/Cislo3_2010_EDS/r4c3c13.pdf
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/586
dc.format5 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoenen
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnickács
dc.relation.ispartofseriesElectroscopecs
dc.rightsCopyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved.en
dc.subjectnoise spectroscopycs
dc.subjectshallow trapscs
dc.subjectCdTe crystalscs
dc.titleNoise spectroscopy of shallow traps in CdTe crystalsen
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessopenAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.description.abstract-translatedWe introduce the noise traps spectroscopy, which is a method of material characterization. This method makes it possible to localize the shallow traps and find out their parameters. It is based on the measurement of the current noise spectral density versus temperature plots for different energies of the sample illuminating monochromatic light. All traps energies can be found in papers of other authors.en
dc.subject.translatedzvuková spektroskopieen
dc.subject.translatedmělké pastien
dc.subject.translatedkrytaly CdTeen
dc.type.statusPeer-revieweden
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 3 - EDS 2010 (2010)
Číslo 3 - EDS 2010 (2010)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r4c3c13.pdf184,47 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/586

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.