Title: Aspekty měření šumu 1/f výkonových polovodičových prvků
Authors: Hájek, Jiří
Papež, Václav
Citation: Electroscope, 2011, č. 5, Diagnostika'11.
Issue Date: 2011
Publisher: Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Document type: článek
konferenční příspěvek
article
conferenceObject
URI: http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2011/Cislo5_2011/r5c5c2.pdf
http://hdl.handle.net/11025/654
ISSN: 1802-4564
Keywords: polovodičové prvky;proudový šum;elektrická měření
Keywords in different language: semiconductor devices;current noise;electrical measurements
Abstract: Jedním z hlavních znaků jakosti elektrotechnických součástek je úroveň proudového šumu. U pasivních prvků je šum přímo měřítkem kvality a stárnutím se může výrazně měnit. Měřením šumu tak lze předpovídat dobu života nebo pravděpodobnost poruchy. V případě polovodičů je proudový šum měřítkem kvality výroby či použité technologie. Na rozdíl od pasivních součástek není vliv stárnutí polovodičových prvků na šum tak výrazný. Šum však lze využít k detekci skrytých vad VA charakteristik, které se obtížně zjišťují běžnými měřeními. Na rozdíl od měření elektrických parametrů vyžaduje měření šumu dokonalé přizpůsobení měřicího obvodu k měřené součástce. Použité přístroje a zapojení výrazně ovlivňují výsledek měření.
Rights: © 2011 Electroscope. All rights reserved.
Appears in Collections:Číslo 5 - Diagnostika (2011)
Články / Articles (KIV)
Číslo 5 - Diagnostika (2011)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
r5c5c2.pdf516,53 kBAdobe PDFView/Open


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/654

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.