Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorCalta, Pavel
dc.contributor.authorKocourek, Lukáš
dc.contributor.refereeVavruňková, Veronika
dc.date.accepted2014-06-03
dc.date.accessioned2015-03-25T09:25:31Z
dc.date.available2013-10-14cs
dc.date.available2015-03-25T09:25:31Z
dc.date.issued2014
dc.date.submitted2014-05-07
dc.identifier58631
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/12389
dc.description.abstractPředkládaná diplomová práce "Příprava a studium křemíkových multivrstevnatých superstruktur a-Si:H/SiO2 pro PV" se zabývá technikami přípravy tenkých vrstev (PVD, CVD, PECVD), metodami jejich identifikace (optickou a strukturní analýzou vrstev) pomocí Ramanovy spektroskopie, FTIR, XRD, UV-Vis spektrofotometrie a spektroskopické elipsometrie. V praktické části je popsána příprava substrátů a multivrstevnatých vzorků, jejich žíhání a následná analýza (z výše zmíněných metod). K této činnosti bylo použito vybavení na pracovišti NTC ZČU v Plzni.cs
dc.format73 s. (99 383 znaků)cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocscs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plznics
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení.cs
dc.subjectfotovoltaikacs
dc.subjecttenká vrstvacs
dc.subjectSi/SiO2cs
dc.subjectsuperstrukturacs
dc.subjectoptické a strukturní vlastnostics
dc.subjectdepozicecs
dc.subjectdepoziční aparaturacs
dc.subjectpolovodičová technikacs
dc.subjectFTIRcs
dc.subjectRamanova spektroskopiecs
dc.subjectPECVDcs
dc.subjectPVDcs
dc.titlePříprava a studium křemíkových multivrstevnatých superstruktur a-Si:H/SiO2 pro oblast PVcs
dc.title.alternativePreparation and study of silicon multilayer superstructures a-Si:H/SiO2 for the PVen
dc.typediplomová prácecs
dc.thesis.degree-nameIng.cs
dc.thesis.degree-levelNavazujícícs
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnickács
dc.description.departmentKatedra technologií a měřenícs
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatikacs
dc.description.resultObhájenocs
dc.rights.accessopenAccessen
dc.description.abstract-translatedThis diploma thesis "Preparation and study of silicon multilayer superstructures a-Si:H/SiO2 for PV" deals with the techniques of thin films (PVD, CVD, PECVD), methods of their identification (optical and structural analysis) using Raman spectroscopy, FTIR, XRD, UV-Vis spectrophotometry and spectroscopic ellipsometry. The practical part of this work describes the preparation of substrates and multilayered samples, subsequent their annealing and analysis (of the above methods). For this research, there were used facilities at NTC of University of West Bohemia in Pilsen.en
dc.subject.translatedphotovoltaicsen
dc.subject.translatedthin filmen
dc.subject.translatedSi/SiO2en
dc.subject.translatedsuperstructuresen
dc.subject.translatedoptical and structural propertiesen
dc.subject.translateddepositionen
dc.subject.translateddeposition equipmenten
dc.subject.translatedsemiconductortechniqueen
dc.subject.translatedFTIRen
dc.subject.translatedRaman spectroscopyen
dc.subject.translatedPECVDen
dc.subject.translatedPVD.en
Appears in Collections:Diplomové práce / Theses (KET)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
DP_Kocourek_Lukas.pdfPlný text práce11,94 MBAdobe PDFView/Open
058631_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce382,76 kBAdobe PDFView/Open
058631_oponent.pdfPosudek oponenta práce381,54 kBAdobe PDFView/Open
058631_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce207,19 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/12389

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

search
navigation
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Vysokoškolské kvalifikační práce / Theses
  3. Fakulta elektrotechnická / Faculty of Electrical Engineering
  4. Katedra technologií a měření / Department of Technologies and Measurement
  5. Diplomové práce / Theses (KET)