Název: Prediction of the thick film resistor trimming
Autoři: Skácel, Josef
Kolařík, Jan
Szendiuch, Ivan
Citace zdrojového dokumentu: Electroscope. 2017, č. 2.
Datum vydání: 2017
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Typ dokumentu: článek
article
URI: http://hdl.handle.net/11025/26595
ISSN: 1802-4564
Klíčová slova: tlustovrstvá technologie;odpor tlustovrstvého rezistoru;simulace;výkonové zatížení řezů
Klíčová slova v dalším jazyce: thick-film technology;resistance thick-film resistors;simulation;power load of cuts
Abstrakt: Tento výzkum se zabývá tlustovrstvovou technologií. Především je tato práce zaměřena na dostavování hodnoty odporu tlustovrstvového rezistoru. Hlavním zájmem bylo použití simulačního program pro predikci hodnoty výsledného rezistoru. Laserové dostavování se používá k přesnému dostavení tlustovrstvých rezistorů a tato oblast je vhodná pro použití simulačních programů. Další oblast zájmu byla z pohledu výkonového zatížení jednotlivých řezů a možnosti jejich měření. V tomto článku bylo vybráno šest řezů k porovnání výkonového zatížení a korelaci se simulačním programem. Jako simulační nástroj byl vybrán ANSYS Workbench.
Abstrakt v dalším jazyce: This research deals with the issue of the thick-film technology. This work is focused especially on the trimming value of resistance thick-film resistors. The main aim is to use simulation program for resistance value prediction. The laser trimming is used to ensure accurate values of thick film resistors. Another area of interest is the power load of individual cuts and the possibilities of measuring them. In this paper, six cuts were selected to compare power load and correlation with simulations from the Ansys Workbench program was done.
Práva: Copyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved.
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 2 (2017) - IMAPS flash Conference 2017
Číslo 2 (2017) - IMAPS flash Conference 2017

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Skacel.pdfPlný text555,21 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/26595

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.