Title: Měřicí systém pro ověření parametrů OCXO oscilátoru
Other Titles: Measuring system for verification of OCXO oscillator parameters
Authors: Boula, Luboš
Advisor: Pokorný Michal, Ing. Ph.D.
Referee: Mráz Jan, Ing. Ph.D.
Issue Date: 2023
Publisher: Západočeská univerzita v Plzni
Document type: diplomová práce
URI: http://hdl.handle.net/11025/53534
Keywords: oscilátory ocxo;teplotně stabilizované oscilátory;spi sběrnice;automatizace měření;měřící pracoviště
Keywords in different language: ocxo oscillators;temperature stabilized oscillators;spi bus;measurement automatization;measuring site
Abstract: V současné komunikační a radarové technice ve vysokofrekvenčních pásmech je potřeba zajistit vysokou přesnost a spolehlivost elektronických zařízení. Pro zajištění těchto vysokých nároků je potřeba sestavit, otestovat a provést kontrolu jakosti výrobku. Cílem této práce je navrhnout a realizovat měřicí systém pro ověření parametrů teplotně stabilizovaného krystalového oscilátoru (Oven Controlled Crystal Oscillator, OCXO), které jsou klíčovou součástí těchto vysokofrekvenčních systémů. Navržený systém umožní obsluze urychlit a zjednodušit měření testovaného přípravku. Zjištěné hodnoty se automaticky zapisují do protokolu, který stanovuje přesnost, spolehlivost a kvalitu výrobku. Pro návrh a realizaci této práce byly použity programy a přístroje společnosti Rohde&Schwarz. Výsledkem je funkční měřicí systém, který ověří správnost desky plošných spojů OCXO oscilátoru a vyhodnotí parametry, které musí deska splňovat podle měřicího předpisu zadaného společností Rohde&Schwarz.
Abstract in different language: In current communication and radar technology in high-frequency bands, it is necessary to ensure high accuracy and reliability of electronic devices. To achieve these high demands, the product must be assembled, tested and quality checked. The goal of this work is to design and implement a measurement system for verifying the parameters of OCXO oscillators, a key part of these high-frequency systems. The designed system will allow the operator to speed up and simplify the measurement of the tested device. The measured values are automatically recorded in a log that determines the accuracy, reliability and quality of the product. Programs and equipment from Rohde&Schwarz were used for the design and implementation of this work. The result is a functional measurement system that verifies the correctness of the OCXO oscillator circuit board and evaluates parameters that correspond to the measurement prescription set by Rohde&Schwarz.
Rights: Plný text práce je přístupný bez omezení
Appears in Collections:Diplomové práce / Theses (KEI)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
DP_Merici_system_pro_overeni_parametru_OCXO_oscilatoru.pdfPlný text práce3,18 MBAdobe PDFView/Open
PosudekOponentaSTAG.pdfPosudek oponenta práce60,49 kBAdobe PDFView/Open
PosudekVedoucihoSTAG.pdfPosudek vedoucího práce59,56 kBAdobe PDFView/Open
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdfPrůběh obhajoby práce42,03 kBAdobe PDFView/Open


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/53534

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.